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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA 80-25-1975-2160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LA 80-25-1975-2160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LA 88-25-2175-2360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 2,175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LA 88-25-2175-2360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 2,175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 64-25-1575-1760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 64-25-1575-1760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA 8-50-350-560 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA 8-50-350-560 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 16-50-750-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 16-50-750-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm